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Leading innovation in filtration technology

引领空气与分子过滤创新,助力客户产能提升

随着内外部AMC污染源数量的激增,半导体制造工艺已发展出多层污染控制体系。
典型晶圆厂会在MAU、FFU位置安装AMC过滤器。 但随着制程线宽持续微缩至纳米级,设备Tools内部产生的气态分子污染物(AMC)对制程的潜在威胁日益加剧。
为此,Getek针对各种半导体生产中所产生的AMC,提供有效过滤的完整解决方案。

设备制程Tools解决方案

厂务系统FFU解决方案

厂务系统MAU解决方案

设备制程Tools解决方案

Getek针对半导体设备制程需求,设计出一系列高效能化学过滤器,可广泛应用于各类先进设备设备,提供灵活且高适应性的AMC微污染控制解决方案。

 

多样化产品设计:依据不同制程条件及设备结构,量身开发各式专用过滤器,灵活支持定制化需求。

 

高效去除:有效过滤酸性、碱性、有机等多类型分子污染物,确保制程环境洁净稳定。
 

良率保障:协助设备运作环境达到最高洁净标准,降低微污染导致的不良率风险。

厂务系统FFU解决方案

风机滤网机组( FFU)是洁净室室空气供应系统中的关键设备,结合送风机与高效过滤器功能,负责将洁净气流均匀送入室内,并维持洁净室的正压环境。

 

Getek针对FFU应用需求,提供高效且灵活的微污染控制解决方案。

厂务系统MAU解决方案

MAU是洁净室循环系统处理新风的核心直接左右环境、效率与良率,堪称“第一道防线”。

 

我们针对 MAU 特性,提供传统及可替换式V 型、箱型、平板型、单凸法兰型化学过滤器及大风量V型高效过滤器选项,灵活适配各类 MAU 设计规格。